[发明专利]检查装置、包装薄片制造装置及包装薄片制造方法在审
| 申请号： | 202080031346.1 | 申请日： | 2020-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN113748332A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 大谷刚将 | 申请（专利权）人： | CKD株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 | 代理人： | 刘卓然 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | [课题]提供一种可抑制检查效率降低且能更可靠地担保检查质量的均一性的检查装置等。一边照射可穿透PTP薄膜9的X射线，一边根据X射线传感器52a取得基于已穿透PTP薄膜9的X射线的X射线穿透图像，基于该X射线穿透图像执行检查。X射线穿透图像的取得，为以朝X射线的照射源的对向侧凸出的方式使PTP薄膜9弯曲，并以维持着PTP薄膜9的弯曲形状的状态下进行。X射线传感器52a被设为沿着PTP薄膜9的形状的弯曲形状。由此，可抑制照射于PTP薄膜9的各位置的电磁波强度的不均等。其结果，X射线穿透图像在各位置更为均质。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 包装 薄片 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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