[发明专利]增材制造设备中的同轴熔池传感器中或与其相关的改进在审
| 申请号： | 202080031828.7 | 申请日： | 2020-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN115943048A | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 约翰·黛尔迪丝;凯里·布朗;乔纳森·曼塞尔 | 申请（专利权）人： | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分类号： | B33Y10/00 | 分类号： | B33Y10/00;B33Y30/00;B33Y40/00;B33Y50/02;B22F3/105;B23K26/03;B23K26/34;B23K26/342;B29C64/153;B29C64/393;B29C64/268 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 邰凤珠;程强 |
| 地址： | 英国格*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种对准增材制造设备中的同轴熔池传感器(123)的方法。该方法包括：使用第一光学链(106a，106b，106c，106d)使第一激光束(118a，118b，118c，118d)在工作表面(110)上沿着第一扫描路径(L1)扫描，以沿着第一扫描路径(L1)生成熔池(130)；以及使用第二光学链(106a，106b，106c，106d)使同轴传感器(123)的视场(132)在工作表面上沿着第二扫描路径(L2)扫描，以用于操控第二激光束(118a，118b，118c，118d)。第一扫描路径和第二扫描路径(L1，L2)相交。当视场(132)沿着第二扫描路径(L2)扫描时，根据由同轴传感器(123)生成的信号的变化来确定有待对同轴传感器(123)的视场(132)与第二光学链(106a，106b，106c，106d)的光轴的对准进行的调整。 | ||
| 搜索关键词： | 制造 设备 中的 同轴 熔池 传感器 与其 相关 改进 | ||
【主权项】：
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