[发明专利]基于机器学习的天线阵列验证、原型设计和优化在审
| 申请号： | 202080053448.3 | 申请日： | 2020-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN114144779A | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | A·史密斯;K·乌内;V·西米莱斯基;Z·张 | 申请（专利权）人： | 赛普拉斯半导体公司 |
| 主分类号： | G06F17/18 | 分类号： | G06F17/18;G06K9/62;G06N3/02;G06N3/08;G06N20/00;G01S11/04;H04B17/391;H01Q21/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘瑜 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 估计天线阵列的角分辨率的示例方法包括：接收用于天线阵列所包括的多个天线元件中的每个天线元件的射频(RF)信号的幅度和相位的多个值；通过机器学习模型执行特征提取操作，以将幅度和相位的多个值变换为降维空间中的多个数据点；通过机器学习模型将多个数据点聚类到多个聚类中；并且基于聚类的数据点来计算天线阵列的角分辨率值。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 机器 学习 天线 阵列 验证 原型 设计 优化 | ||
【主权项】：
暂无信息
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