[发明专利]检测装置在审
申请号: | 202080062920.X | 申请日: | 2020-08-18 |
公开(公告)号: | CN114342082A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 多田正浩;中村卓;泷本昭雄 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本显示器 |
主分类号: | H01L27/30 | 分类号: | H01L27/30 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;闫剑平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 检测装置具备:基板;多个第1光传感器,其设于基板的检测区域,包括具有光伏效应的有机材料层;以及至少一个以上的第2光传感器,其设于基板,包括具有光伏效应的无机材料层。多个第1光传感器在检测区域呈矩阵状排列,第2光传感器配置在基板的周边区域。或者,第2光传感器配置在基板的检测区域。 | ||
搜索关键词: | 检测 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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