[发明专利]基于缺陷的物理层指纹在审
| 申请号： | 202080065913.5 | 申请日： | 2020-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN114503626A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | D.尤努索夫;A.图布尔;G.S.库茨;S.兰迪斯 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W12/03 | 分类号： | H04W12/03;H04W12/041;H04W12/0431;H04W12/06;H04W12/79;H04B7/06 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 安之斐 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开的各个方面总体上涉及无线通信。在一些方面中，无线设备可以从发送设备接收波束成形信号。无线设备可以至少部分地基于一个或多个系数来估计加权和，该一个或多个系数与和发送设备相关联的缺陷以及无线设备的空间位置等有关。无线设备可以至少部分地基于加权和中的多个系数之间的比率来确定密码密钥，并且无线设备与发送设备之间的一个或多个通信可以是基于密码密钥来保护的。提供了许多其他方面。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 缺陷 物理层 指纹 | ||
【主权项】：
暂无信息
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