[发明专利]光学器件、光子检测器、以及制造光学器件的方法在审

专利信息
申请号: 202080068098.8 申请日: 2020-09-24
公开(公告)号: CN114503003A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 卡塔林·拉扎尔;戈兰·斯托扬诺维奇;科林·斯蒂尔 申请(专利权)人: AMS国际有限公司
主分类号: G02B6/293 分类号: G02B6/293;G01D5/26;H01S5/14
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 程强;刘继富
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于光学传感器的光学器件,包括:半导体激光器(1)的增益元件(11)、波长选择反馈元件(2)、以及传感元件(3)。波长选择反馈元件(2)的至少一部分和传感元件(3)被设置在公共传感器封装件(4)中。增益元件(11)被设置成产生和放大光学信号。增益元件(11)和波长选择反馈元件(2)形成半导体激光器(1)的外腔(15)的至少一部分,从而提供反馈机制以根据光学信号维持激光振荡。波长选择反馈元件(2)被设置成耦合输出光学信号的一部分,并将光学信号的所述部分朝向传感元件(3)引导,以探测传感元件(3)的物理特性。
搜索关键词: 光学 器件 光子 检测器 以及 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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