[发明专利]检测装置及显示装置在审
| 申请号： | 202080079820.8 | 申请日： | 2020-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN114730809A | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 尾关芳孝;上岛诚司 | 申请（专利权）人： | 株式会社日本显示器 |
| 主分类号： | H01L31/0232 | 分类号： | H01L31/0232 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 马强 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实施方式的目的在于提供一种能够抑制可靠性的降低的检测装置及显示装置。本实施方式的检测装置(1)具备：基板(21)；光电转换元件(30)，设置于所述基板(21)之上，且包含半导体层(31‑33)；晶体管(Mrst)，与所述光电转换元件(30)对应地设置；支承基板(SS)；以及绿色的滤色器(CF)，支承于所述支承基板(SS)，所述滤色器(CF)与所述光电转换元件(30)重叠。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 显示装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
