[发明专利]与垂直场效应晶体管集成的电阻式随机存取存储器单元在审

专利信息
申请号: 202080083203.5 申请日: 2020-12-04
公开(公告)号: CN114747015A 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: A·雷茨尼采克;B·海克马特少塔巴瑞;安藤崇志;K·巴拉克瑞什那 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 边海梅
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种单晶体管双电阻器(1T2R)电阻式随机存取存储器(ReRAM)结构及用于形成所述结构的方法,包括形成垂直场效应晶体管(VFET),所述VFET包括位于沟道区域(502)上方和介电盖(708)下方的外延区域(810)。外延区域(810)包括由水平延伸超过沟道区域(502)的111平面界定的三角形形状的两个相对的突出区域。在VFET上共形地沉积ReRAM堆叠体。ReRAM堆叠体包括直接位于外延区域(810)上方的氧化物层(1910)、直接在氧化物层(1910)上方的顶部电极层(1912)和在顶部电极层(1912)上方的金属填充物(1920)。外延区域(810)的两个相对的突出区域中的每个充当ReRAM堆叠体的底部电极。
搜索关键词: 垂直 场效应 晶体管 集成 电阻 随机存取存储器 单元
【主权项】:
暂无信息
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