[发明专利]用于检测薄膜幅材中的局部增厚的测量装置和方法在审

专利信息
申请号: 202080085585.5 申请日: 2020-12-07
公开(公告)号: CN114761339A 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: A·保卢斯;K·迈耶;J·尼克尔;J·霍特曼 申请(专利权)人: 科思创知识产权两合公司
主分类号: B65H26/02 分类号: B65H26/02;B29C48/355;B29C48/92;B29C48/00;B29C48/21
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 臧永杰;刘春元
地址: 德国勒*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供用于检测薄膜幅材(20)、尤其是挤出薄膜和/或共挤薄膜中的局部增厚的测量装置,所述测量装置具有用于在可沿着移动的薄膜幅材(20)处滚压的第一辊(14)、用于在可沿着移动的薄膜幅材(20)处滚压的第二辊(18),所述第二辊能够间接地经由所述薄膜幅材(20)支撑在所述第一辊(14)处,其中所述第二辊(18)在可沿着移动的薄膜幅材(20)的厚度方向上、尤其是在垂直方向上柔性地被引导以及用于检测所述第二辊(18)的距离的相对于所述第一辊(14)和/或相对于所述可沿着移动的薄膜幅材(20)位置固定的至少一个距离传感器(24)。通过由薄膜幅材(20)的局部增厚在所述薄膜幅材(20)的厚度方向上可偏移的第二辊(18)使得能够快速且简单地检测薄膜幅材(20)中的局部增厚。
搜索关键词: 用于 检测 薄膜 中的 局部 测量 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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