[发明专利]确定被测技术变量的至少一个公差带极限值的方法和对应的计算装置

摘要

公开了一种确定被测技术变量(x)的至少一个公差带极限值(k，kp，kc)的方法，其包括：从不同样本的样本公差带极限值中获得(S10，S10p，S10c，S20)所述至少一个公差带极限值(k，kp，kc)，其中，所述样本包括关联样本的被测技术变量(x)的值(z)，其中，获得所述至少一个公差带极限值(k，kp，kc)包括使用所述样本公差带极限值(k，kp，kc)分布所按照的分布的位置测度(平均k，平均kp，平均kc)，其中，所述被测技术变量(x)按照底层极值分布函数(F0，F9，F10)分布，并且其中，所述样本公差带极限值(k，kp，kc)中的每一个能够使用样本特定的条件概率分布函数(F4，F11)计算或是使用其计算(S6，S6p，S6c)的，所述样本特定的条件概率分布函数是所述样本的样本值(z)的函数，并且其中，所述技术变量(x)与能够在工业大规模生产过程中生产的产品的物理特性相关。