[发明专利]用于自动化测试设备的探针卡中的同轴通孔布置在审

专利信息
申请号: 202080086549.0 申请日: 2020-12-10
公开(公告)号: CN114829948A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 布赖恩·布雷希特 申请(专利权)人: 泰瑞达公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R1/04;G01R3/00;G01R31/28;G01R31/319
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆森;戚传江
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种自动化测试设备(ATE)中的探针卡。该探针卡可以是垂直型探针卡组件的一部分,其中在电路板上的焊盘通过探针引脚接触,该电路板中的竖直通孔使各种导电元件互连。本文公开了一种探针卡,其具有围绕信号通孔成同轴布置的接地通孔,这些接地通孔向信号提供电磁屏蔽以减少相邻信号通孔之间的串扰。
搜索关键词: 用于 自动化 测试 设备 探针 中的 同轴 布置
【主权项】:
暂无信息
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