[发明专利]生产多个分析测试条的方法和系统在审
| 申请号： | 202080087755.3 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN114786949A | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | A·德特洛夫;E·亨贝克;A·莱特曼 | 申请（专利权）人： | 豪夫迈·罗氏有限公司 |
| 主分类号： | B32B38/18 | 分类号： | B32B38/18;B32B41/00;B32B37/02;B32B38/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 黄涛;周学斌 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种通过使用卷到卷工艺来生产多个分析测试条(146)的方法。每个分析测试条(146)均包括具有至少一个第一电极(200)的至少一个第一层(198)、至少一个间隔层(202)和具有至少一个第二电极(206)的至少一个第二层(204)。所述方法包括：i.提供至少一个连续的第一层幅材(114)，所述至少一个连续的第一层幅材在第一侧(118)上设置有至少一个第一电极层(120)，所述第一层幅材(114)具有第一层边缘(122)；ii.在至少一个第一层压站(116)中将至少一个连续的间隔层幅材(124)连续地设置到所述第一层幅材(114)的所述第一侧(118)上，其中所述间隔层幅材(124)具有间隔层边缘(126)，其中通过将所述第一层边缘(122)的位置用作主位置并且将所述间隔层边缘(126)的位置用作从位置，以主从方式对所述设置进行位置控制，其中进行所述设置，使得所述间隔层边缘(126)自所述第一层边缘(122)偏移，并且由此所述第一层(114)的所述第一侧(118)的一部分和所述第一电极层(120)的一部分保持未由所述间隔层幅材(124)覆盖；以及iii.在至少一个第二层压站(128)中将至少一个连续的第二层幅材(130)连续地设置到所述间隔层幅材(124)上，所述第二层幅材(130)在第一侧(132)上设置有至少一个第二电极层(134)，其中执行所述设置使得所述第二电极层(134)面向所述第一层幅材(114)，其中所述第二层幅材(130)具有第二层边缘(136)，其中进行所述设置，使得所述第二层边缘(136)与所述第一层边缘(122)对齐，并且其中通过将所述第二层边缘(136)的位置用作从位置，以主从方式对所述设置进行位置控制。本发明进一步公开了切割站(172)和用于通过使用卷到卷工艺来生产多个分析测试条(146)的制造系统(110)。 | ||
| 搜索关键词： | 生产 分析 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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