[发明专利]分析物的空间分析有效

专利信息
申请号: 202080094371.4 申请日: 2020-11-18
公开(公告)号: CN115210760B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 尹沂峰;Z·本特;S·威廉姆斯;I·费迪斯;J·C·梅林;J·斯塔布;K·J·吴;N·I·韦森菲尔德;F·鲍姆加特纳;B·克莱普尔;P·沙;N·德什洪扬;E·L·H·博格斯特姆;B·麦克里思 申请(专利权)人: 10X基因组学有限公司
主分类号: G06T7/33 分类号: G06T7/33;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/155;G06T7/194
代理公司: 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 代理人: 金辉
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于分析物的空间分析的系统和方法包括将样品放置在具有基准标记和捕获点的基底上。然后,获取所述样品的图像并从所述捕获点获得序列读数。一组捕获探针群中的每个捕获探针群(i)位于不同的捕获点处,(ii)直接或间接地与来自所述样品的分析物缔合,并且(iii)具有唯一空间条形码。测序读数用于检测所述分析物。测序读数包括对应的捕获探针群的空间条形码。空间条形码将读数定位到相应的捕获点,从而将它们划分成子集,每个子集用于相应捕获点。基准标记有助于复合表示,所述复合表示包含(i)与所述捕获点对齐的所述图像和(ii)映射到所述相应的捕获点的在所述图像内的相应位置处的序列读数的每个子集的表示。
搜索关键词: 分析 空间
【主权项】:
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