[发明专利]一种基于SERF的单光束反射式三轴磁场测量装置有效

专利信息
申请号: 202110003022.3 申请日: 2021-01-04
公开(公告)号: CN112946539B 公开(公告)日: 2023-09-01
发明(设计)人: 周斌权;闫业广;刘刚;陆吉玺;尹凯峰;王婧;梁子华 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02;G01R33/032
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 朱亚娜;吴小灿
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明所述基于SERF的单光束反射式三轴磁场测量装置,采用在碱金属气室的气室主体上设置反射镜,使所述激光器发出的入射抽运光与光电探测器接收到的反射抽运光相互垂直,当气室内的碱金属原子处在零磁环境下,其自旋矢量方向沿着入射抽运光和反射抽运光的传播方向,不发生进动,激光的光强不发生变化;当在与入射抽运光或反射抽运光垂直方向上存在待测磁场时,气室内的碱金属原子自旋矢量将绕待测磁场进动,激光光强会随之发生有规律的变化,所述光电探测器将该光强变化信号转为电信号,所述锁相放大器解调光电探测器中的电信号,分别得到X轴、Y轴和Z轴三个方向磁场对应的电压信号,进而使用单光束完成三轴磁场的测量。
搜索关键词: 一种 基于 serf 光束 反射 式三轴 磁场 测量 装置
【主权项】:
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