[发明专利]痕量气体探测装置及方法有效

专利信息
申请号: 202110011017.7 申请日: 2021-01-05
公开(公告)号: CN112683846B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 胡水明;王进 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39;G01N21/01
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 鄢功军
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本公开提供了一种痕量气体探测装置,包括:激光器模块;光学谐振腔,包括腔体和两块反射镜,其中,腔体用于装填含有痕量气体的待测气体,两块反射镜垂直腔体的轴线放置于腔体的两端;透镜组,位于激光器模块和光学谐振腔之间;光电探测模块,用于接收光学谐振腔出射的光信号,并将光信号转换为电信号;反馈控制模块;光谱扫描控制模块,用于产生扫描信号,并将扫描信号发送给光学谐振腔,以改变光学谐振腔的腔长,使光学谐振腔出射多个光信号;以及数据采集模块,用于在光电探测模块将多个光信号转换为多个电信号后,接收多个电信号,并生成痕量气体的分子吸收光谱。此外,本公开还提供了一种使用该装置进行的痕量气体探测的方法。
搜索关键词: 痕量 气体 探测 装置 方法
【主权项】:
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