[发明专利]一种增加测试机向量深度的方法在审
| 申请号： | 202110011857.3 | 申请日： | 2021-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN112802538A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 王斌;刘远华;吴勇佳;范文萱;吴杰晔 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人： | 宋振宇 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种增加测试机向量深度的方法，1)在测试芯片的测试板上单独安装满足测试要求的存储器；2)程序会把超标的向量先写入到测试板的存储芯片中；3)当程序执行到某一个测试项时，测试项向量超过测试机本身深度时，测试板上存储器内向量分批读入测试机内向量，分批执行，程序把超标的向量先写入到测试板的存储芯片中，直到测试向量全部完成。本发明提供的一种增加测试机向量深度的方法，解决了在测试机向量深度不够的情况下还依然可以使用较大的测试向量，在针卡上每个site对应装存储芯片，大向量存到针卡存储芯片中，测试时把针卡上存入向量分批读入测试机里向量存储空间，直至向量测试完成。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 增加 测试 向量 深度 方法 | ||
【主权项】：
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