[发明专利]一种测试治具射频校准系统及方法有效
| 申请号： | 202110013307.5 | 申请日： | 2021-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN112737706B | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 余守军 | 申请（专利权）人： | 深圳市精泰达科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/11 | 分类号： | H04B17/11;H04B17/21 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 任志龙 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区福城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种测试治具射频校准系统及方法，属于射频测试技术的领域，校准系统包括校准模块和测试模块；第一射频线缆，用于一端连接插损测量装置的第一输入端口，另一端连接插损测量装置的第二输入端口，以进行插损测量装置的双端校准，并用于一端连接参数测试装置，另一端连接插损测量装置的第二输入端口；第二射频线缆，用于一端连接插损测量装置的第一输入端口，另一端连接探针连接器；探针连接器固定于屏蔽箱的载板上；并提供了一种测试治具射频校准方法。与相关技术相比，本申请具有改善WIFI/BLE产品的测试值与实际值存在较大的偏差的问题的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 射频 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市精泰达科技有限公司，未经深圳市精泰达科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110013307.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电池包膜方法及电池
- 下一篇：一种全工业固废高强仿真大理石及其制备方法
