[发明专利]显微镜和确定显微镜的测量位置的方法在审
| 申请号： | 202110016824.8 | 申请日： | 2021-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN113139894A | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 阿姆托尔·曼努埃尔;哈泽·丹尼尔;高格勒·迈克尔 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T3/00 | 分类号： | G06T3/00;G06T7/73;G06N20/00;G02B21/34;G02B21/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海雍灏知识产权代理事务所(普通合伙) 31368 | 代理人： | 沈汶波 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在用于确定显微镜(100)的测量位置(22)的方法中，获得样品载体(10)的概览图像(70)。确定映射或单应性，借助于该映射或单应性，可以基于样品载体(10)的高度(H)将概览图像(70)透视地转换为平面图图像(71)。借助于确定的映射/单应性，在概览图像(70)或从中得出的输出图像中识别出测量位置(22)。此外，还公开了一种对应的显微镜。 | ||
| 搜索关键词： | 显微镜 确定 测量 位置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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