[发明专利]低导通压降的载流子存储型FS-IGBT及制作方法在审
申请号: | 202110019615.9 | 申请日: | 2021-01-07 |
公开(公告)号: | CN112750893A | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 史志扬;张海涛 | 申请(专利权)人: | 无锡紫光微电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/423;H01L29/739;H01L21/28;H01L21/331 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;涂三民 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新区菱*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种低导通压降的载流子存储型FS‑IGBT,在N‑型衬底上开设沟槽,在沟槽内设置屏蔽栅氧化层、屏蔽栅多晶硅、栅极氧化层与栅极导电多晶硅;在N‑型衬底的正面形成N+型载流子存储层,在N+型载流子存储层的正面形成P‑型体区,在P‑型体区的正面形成N+型发射极,在N+型发射极的正面设置绝缘介质层,在绝缘介质层的正面设置发射极金属;在N‑型衬底的背面设置N+型缓冲层,在N+型缓冲层的背面设置P+型集电极。本发明降低了导通压降,同时降低了反馈电容,改善了器件工作时的导通损耗,最终在一定程度上降低了开关损耗。 | ||
搜索关键词: | 低导通压降 载流子 存储 fs igbt 制作方法 | ||
【主权项】:
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