[发明专利]基于子阵特征矩阵联合对角化的单脉冲和差波束测角方法有效
| 申请号： | 202110023171.6 | 申请日： | 2021-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN112881975B | 公开（公告）日： | 2023-09-08 |
| 发明（设计）人： | 余显祥;严正欣;葛萌萌;张雷;方学立;王睿甲;崔国龙;孔令讲;郭世盛;杨晓波 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01S3/48 | 分类号： | G01S3/48 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于子阵特征矩阵联合对角化的单脉冲和差波束测角方法，应用于雷达角度测量技术领域，针对现有技术存在的测角问题；本发明首先利用特征矩阵联合对角化方法分别对每个子阵的和差通道信号进行分离，估计出目标信号和干扰信号，实现主瓣干扰抑制；然后将各子阵估计得到的目标信号(或者干扰信号)联合构建和差波束；最后利用单脉冲和差波束测角算法将目标信号(或者干扰信号)的角度信息获取，从而实现目标信号(或者干扰信号)的角度测量；通过仿真表明了本发明所提这一方法的有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 特征 矩阵 联合 角化 脉冲 波束 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110023171.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
