[发明专利]一种针对自动测试机的异步频谱泄漏的抑制方法在审
| 申请号： | 202110025102.9 | 申请日： | 2021-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN112880940A | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 魏津;张经祥;吴艳平 | 申请（专利权）人： | 胜达克半导体科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01M3/20 | 分类号： | G01M3/20 |
| 代理公司： | 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人： | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址： | 201799 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种针对自动测试机的异步频谱泄漏的抑制方法。一种针对自动测试机的异步频谱泄漏的抑制方法，具体解决方法如下：S1：启动被测芯片的测试工作；S2：启动自动测试机的采样模块进行数据采样，采样数据长度为16384点；S3：根据采样数据长度为16384点，记录计算长度为16384，并添加汉宁窗函数计算得出采样点加权系数；S4：将计算得出的采样点加权系数应用在时域采样数据的公式中；S5：得出各项数据后，进行傅里叶变换，得出SNR及THD的数据。同现有技术相比，在自动测试机采样模块进行采样时增加汉宁窗函数，并进行傅里叶转换，能够针对非周期性信号的频谱泄漏有抑制作用，有利于分析信号的频率特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 自动 测试 异步 频谱 泄漏 抑制 方法 | ||
【主权项】：
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