[发明专利]一种用于XRD和原子力显微镜的变温样品台及其使用方法在审
申请号: | 202110025771.6 | 申请日: | 2021-01-08 |
公开(公告)号: | CN112834538A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 聂越峰;管乐 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207;G01N23/20033;G01Q60/24;G01Q30/10 |
代理公司: | 江苏德善律师事务所 32488 | 代理人: | 何红梅 |
地址: | 210000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于XRD和原子力显微镜的变温样品台及其使用方法,本发明的用于XRD和原子力显微镜的变温样品台包括样品台底座,所述样品台底座的顶部设置有立柱,所述立柱的顶端设置有第一固定螺帽,所述样品台底座的顶部设置有中心螺柱,所述中心螺柱的顶部设置有载物台,所述立柱的顶部一侧设置有支撑平台,所述载物台的内部开设有通孔,所述载物台的底部设置有加热片,所述样品台底座的底部设置有磁片。解决了目前还没有同时满足XRD及AFM的变温样品台,现有的变温样品台兼容性差,难以同时满足多种仪器的测试需求,现有测试仪器配备的变温装置,造价高,设备复杂,操作难度大,易损坏,且维护成本高的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 xrd 原子 显微镜 样品 及其 使用方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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