[发明专利]一种基于均匀圆阵的比幅测向方法有效

专利信息
申请号: 202110029353.4 申请日: 2021-01-11
公开(公告)号: CN112858994B 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 林仕文;周亚文;李万春 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01S3/14 分类号: G01S3/14
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 孙一峰
地址: 611731 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于电子侦察技术领域,涉及一种基于均匀圆阵的比幅测向方法。本发明提供了一种利用均匀圆阵进行比幅测向的方法,结合DBF技术,利用圆形阵列能够提供全方位的方位角的特性,通过两次波束形成的方式,分为全方位搜索阶段和局部定位跟踪阶段,进行比幅法测向,完成信号源的方向测量估计。本发明的有益效果为,本发明可以进行实现比幅法测向的360°全向测向,并有效提高测向精度,较准确估计信号的入射角信息,方法简单,效果良好。
搜索关键词: 一种 基于 均匀 测向 方法
【主权项】:
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