[发明专利]一种基于均匀圆阵的比幅测向方法有效
申请号: | 202110029353.4 | 申请日: | 2021-01-11 |
公开(公告)号: | CN112858994B | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 林仕文;周亚文;李万春 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01S3/14 | 分类号: | G01S3/14 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 孙一峰 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于电子侦察技术领域,涉及一种基于均匀圆阵的比幅测向方法。本发明提供了一种利用均匀圆阵进行比幅测向的方法,结合DBF技术,利用圆形阵列能够提供全方位的方位角的特性,通过两次波束形成的方式,分为全方位搜索阶段和局部定位跟踪阶段,进行比幅法测向,完成信号源的方向测量估计。本发明的有益效果为,本发明可以进行实现比幅法测向的360°全向测向,并有效提高测向精度,较准确估计信号的入射角信息,方法简单,效果良好。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 均匀 测向 方法 | ||
【主权项】:
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