[发明专利]光电元件测试系统在审

专利信息
申请号: 202110029499.9 申请日: 2021-01-11
公开(公告)号: CN112730914A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 彭水良 申请(专利权)人: 华精机(苏州)机械科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/30;F16F15/02;F16F15/067;H05K7/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及光电元件测试技术领域,尤其涉及光电元件测试系统,解决现有技术中存在的缺点,包括机壳和减震组件,所述机壳上设置有控制面板,机壳为空腔结构,所述减震组件包括安装板,安装板的顶部通过粘合剂粘接有减震垫,且安装板上通过螺钉固定有对称布置的安装柱,所述安装柱的底部焊接有支脚板,安装柱的外部套设有减震弹簧,减震弹簧的两端分别通过卡扣与安装板和支脚板固定连接;所述安装柱靠近端部的两侧均滑动设置有卡块,通过减震组件的设置,在设备的底部增设减震组件,可以对减小外部震动力对设备造成的影响,避免光电元件与测试板之间松动,确保测试工作的稳定进行。
搜索关键词: 光电 元件 测试 系统
【主权项】:
暂无信息
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