[发明专利]钙钛矿厚膜X射线探测器及其制备方法有效
申请号: | 202110031000.8 | 申请日: | 2021-01-11 |
公开(公告)号: | CN112768609B | 公开(公告)日: | 2022-11-01 |
发明(设计)人: | 林乾乾;李威;许亚伦 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | H01L51/42 | 分类号: | H01L51/42;H01L51/48 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 俞琳娟 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供钙钛矿厚膜X射线探测器及其制备方法,钙钛矿厚膜X射线探测器的特征在于包括:透明导电膜基底、空穴传输层、钙钛矿厚膜、电子传输层、电极,其中,钙钛矿厚膜通过真空热共蒸发法制得,并且位于空穴传输层和电子传输层之间。制备方法的特征在于:将不同的钙钛矿原料分别放入不同的束源炉,并分别加到各自的沸点,同时对基底进行原位加热,然后进行真空热共蒸得到钙钛矿厚膜。本发明所提供的钙钛矿厚膜X射线探测器具有优异的电荷传输性能、极快的响应速度、较高的X射线灵敏度和较好的稳定性,并且制备工艺简单,厚度可调,易于在柔性基底上制备,在医学成像、航空安检等领域具有广泛潜在应用。 | ||
搜索关键词: | 钙钛矿厚膜 射线 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01L51-52 ..器件的零部件
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