[发明专利]钙钛矿厚膜X射线探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110031000.8 申请日: 2021-01-11
公开(公告)号: CN112768609B 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 林乾乾;李威;许亚伦 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: H01L51/42 分类号: H01L51/42;H01L51/48
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 俞琳娟
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供钙钛矿厚膜X射线探测器及其制备方法,钙钛矿厚膜X射线探测器的特征在于包括:透明导电膜基底、空穴传输层、钙钛矿厚膜、电子传输层、电极,其中,钙钛矿厚膜通过真空热共蒸发法制得,并且位于空穴传输层和电子传输层之间。制备方法的特征在于:将不同的钙钛矿原料分别放入不同的束源炉,并分别加到各自的沸点,同时对基底进行原位加热,然后进行真空热共蒸得到钙钛矿厚膜。本发明所提供的钙钛矿厚膜X射线探测器具有优异的电荷传输性能、极快的响应速度、较高的X射线灵敏度和较好的稳定性,并且制备工艺简单,厚度可调,易于在柔性基底上制备,在医学成像、航空安检等领域具有广泛潜在应用。
搜索关键词: 钙钛矿厚膜 射线 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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