[发明专利]用于微纳光学元件的图像分割方法及自动检测方法在审
| 申请号： | 202110031362.7 | 申请日： | 2021-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN112767414A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 张东亮 | 申请（专利权）人： | 嘉兴驭光光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/11 | 分类号： | G06T7/11;G06T7/136;G06T7/181;G06T5/30;G06T7/00;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京方可律师事务所 11828 | 代理人： | 吴艳;郝东晖 |
| 地址： | 314500 浙江省嘉*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于识别经切割的微纳光学元件的图像分割方法，该方法包括：获取微纳光学元件及包围微纳光学元件的切割道的灰度图像，计算灰度梯度，得到灰度图像的梯度图像；以及根据梯度图像获取微纳光学元件的有效范围。本申请还公开了一种基于上述图像分割方法的微纳光学元件自动检测方法。根据本发明实施例，针对微纳光学元件及其切割道的图像特点，提出了一种能够有效提取微纳光学元件有效区域的方法，有助于提高微纳光学元件缺陷检测的效率和准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 元件 图像 分割 方法 自动检测 | ||
【主权项】：
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