[发明专利]用于检测微型发光二极管背光模组的检测治具及检测方法有效
| 申请号： | 202110034592.9 | 申请日： | 2021-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN112858954B | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 赵壁昌 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/54 | 分类号： | G01R31/54;G01R31/26;G01R31/44 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 吕姝娟 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提出了一种用于检测微型发光二极管背光模组的检测治具及检测方法，微型发光二极管背光模组包括第一检测信号输入端、第二检测信号输入端和至少一被检测单元，每一被检测单元包括连接于第一检测信号输入端的第一正极和连接于第二检测信号输入端的第一负极，第一正极不连接于第一负极；检测治具包括至少一检测单元，每一检测单元包括检测发光二极管和两第一检测探针，两第一检测探针的第一端部连接于检测发光二极管的正极和负极；其中，两第一检测探针的第二端部用于在检测时电性连接于第一正极和第一负极。本申请实施例实现在制程中段实现拦捡异常，可以有效快速预警异常。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 微型 发光二极管 背光 模组 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110034592.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
