[发明专利]基于分块和低秩先验的发射率域热红外高光谱异常探测方法有效

专利信息
申请号: 202110046688.7 申请日: 2021-01-14
公开(公告)号: CN112700437B 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 王少宇;朱绪鹤;钟燕飞;王心宇 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T5/00;G06T7/194;G06F17/16
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 王琪
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种基于分块和低秩先验的发射率域热红外高光谱异常探测方法。首先对原始影像进行温度和发射率反演获取影像的发射率图和温度图,然后使用温度图和辐亮度图结合基于Potts的图像分割算法将发射率图分割成多个同质区域。据观察,在局部均匀区域,背景信号具有增强的低秩性,而异常表现为空间稀疏性。基于此观测,背景像素可以由一组基本背景信号进行低秩重构,而异常可以用稀疏残差表示。然后利用提取的背景端元对原始高光谱数据矩阵进行低秩稀疏矩阵分解,去除部分噪声,获取相比于原始影像更纯粹的背景信息。然后利用马氏距离结合原始发射率影像和背景信息计算异常和背景之间的光谱差异,实现异常和背景分离。
搜索关键词: 基于 分块 先验 发射 率域热 红外 光谱 异常 探测 方法
【主权项】:
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