[发明专利]一种水平电子诱导非晶碳膜低摩擦磨损的方法有效

专利信息
申请号: 202110051011.2 申请日: 2021-01-14
公开(公告)号: CN112875676B 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 范雪;杨智涛;刁东风 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: C01B32/05 分类号: C01B32/05;C01B32/184;C09K3/14;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 谢松
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种水平电子诱导非晶碳膜低摩擦磨损的方法,包括:采用摩擦件在非晶碳膜的表面进行摩擦运动;在所述摩擦运动过程中,对所述非晶碳膜施加平行于所述非晶碳膜的表面的电场,以降低所述非晶碳膜的摩擦磨损;其中,所述摩擦运动的方向具有平行于所述电场的方向的分向量。通过对非晶碳膜施加平行于其表面的电场,并在非晶碳膜表面进行摩擦运动,使得非晶碳膜表面的磨痕区形成少量石墨烯纳晶,磨痕区电阻降低、导电性增加,从而电子汇聚到磨痕区形成大片并且与摩擦方向平行的石墨烯纳晶,磨痕区的摩擦系数降低了一个数量级,同时其低摩擦特性的维持时间较长,具有良好的耐磨性。
搜索关键词: 一种 水平 电子 诱导 非晶碳膜低 摩擦 磨损 方法
【主权项】:
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