[发明专利]一种预测屏栅电离室测量中子诱发核反应实验结果的方法在审
| 申请号： | 202110056465.9 | 申请日： | 2021-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN112859145A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 崔增琪;江浩雨;张国辉;白怀勇;王志敏;胡益伟;刘杰;白浩帆 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G01T1/38 |
| 代理公司： | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人： | 李稚婷 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种预测屏栅电离室测量中子诱发核反应实验结果的方法，通过蒙特卡罗模拟的方法，在获得待测反应以及其他可能发生的干扰反应产生的带电粒子能量、出射方向信息，以及带电粒子的能量损失和射程信息后，定量地得到待测反应出射粒子的能量‑计数关系。通过改变样品厚度、电离室内工作气体种类、气压、中子能量等模拟条件，得到相应的反应出射带电粒子能量‑计数关系，从而通过这种关系较为直观地得到实验的结果，进而优化各类实验条件。本发明可以指导电离室核反应测量实验计划的制订，并且可以确定测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 预测 电离室 测量 中子 诱发 核反应 实验 结果 方法 | ||
【主权项】：
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