[发明专利]三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法在审

专利信息
申请号: 202110056495.X 申请日: 2021-01-15
公开(公告)号: CN113155053A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 宫田薫 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 代理人: 张莉;王刚
地址: 日本国神奈川县*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种三维几何形状测量装置100,包括:虚拟坐标识别部402,其通过将参考仪器上的特征点虚拟投影到拍摄器件的像面上来识别与像面中的特征点相对应的虚拟拍摄像素的坐标;校正部403,其生成用于校正测量目标拍摄图像中包括的测量目标拍摄像素的坐标的校正信息;以及几何形状识别部405,其基于几何特性信息和校正信息,来校正通过用拍摄器件拍摄测量对象而生成的测量目标拍摄图像中包括的多个测量目标拍摄像素的坐标,并且基于基于测量目标拍摄像素的坐标而计算的测量三维坐标来识别测量对象的几何形状。
搜索关键词: 三维 几何 形状 测量 装置 测量方法
【主权项】:
暂无信息
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