[发明专利]微电子装置测试，以及相关联的方法、装置和系统在审
| 申请号： | 202110060601.1 | 申请日： | 2021-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN113223600A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | A·Z·阿姆利宾沙里;市田秀行 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本文公开了微电子装置测试以及相关联的方法、装置和系统。存储器装置可包含存储器阵列，所述存储器阵列包含数个列平面和耦合到所述存储器阵列的至少一个电路。所述至少一个电路可针对所述数个列平面中的每一列平面生成列地址的测试结果数据。所述至少一个电路可进一步响应于所述列平面中的两个或两个以上未通过所述测试而将所述测试结果数据转换为第一结果。所述至少一个电路还可以响应于没有列平面未通过所述测试而将所述测试结果数据转换为第二结果。此外，所述至少一个电路可响应于一个列平面未通过所述测试而将所述测试结果数据转换为第三结果。所述第三结果可以标识所述一个列平面。 | ||
| 搜索关键词： | 微电子 装置 测试 以及 相关 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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