[发明专利]一种显示面板Mura缺陷评估方法有效
| 申请号： | 202110060756.5 | 申请日： | 2021-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN112954304B | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 刘小畅;宋莺 | 申请（专利权）人： | 湖北经济学院 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;G09G3/00 |
| 代理公司： | 武汉仁合利泰专利代理事务所(特殊普通合伙) 42275 | 代理人： | 林枫 |
| 地址： | 430205 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了显示面板Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质，包括高清相机、傅里叶变换、反傅里叶变换、对色空间(wk,rg,by)和位置掩模图，系统首先通过高清相机获取显示面板的完整图像，定位屏幕区域进行裁剪、缩放、去噪滤波，然后将预处理后的RGB色域图像转换为CIE‑XYZ色域图像，将上一步骤处理后的CIE‑XYZ色域图像变换到对色空间(wk,rg,by)中,对色空间三分量分别进行傅里叶变换为频率分量；本发明显示面板Mura缺陷评估方法、系统以及可读存储介质具有可对亮度和色度Mura缺陷进行评估、从整体上对面板进行缺陷评估、可考虑Mura所处位置影响的缺陷评估、融合多目视距离进行缺陷评估的优点，通过大量模拟Mura和采集的实际Mura进行了验证，确保方法对于各种类型的Mura缺陷均能够适用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 面板 mura 缺陷 评估 方法 | ||
【主权项】：
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