[发明专利]一种低散射目标的RCS成像测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 202110061433.8 | 申请日： | 2021-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN112859076A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 刘峥;邵单元;谢荣;高伟奇;冉磊 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90;G01S7/41 |
| 代理公司： | 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 61218 | 代理人： | 惠文轩 |
| 地址： | 710071 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种低散射目标的RCS成像测量装置及测量方法，装置包括：矢量网络分析仪、收发天线组件、横向滑动组件、定标体、测量支架和测控计算机；矢量网络分析仪包含两个发射端口和两个接收端口；收发天线组件包含发射天线、接收天线和天线支架，两个发射端口通过射频电缆与双极化发射天线连接，两个接收端口通过电缆与接收天线连接；天线支架安装于横向滑动组件上，使天线能随水平移动；横向滑动组件的移动距离为合成孔径长度。测量支架用于放置定标体和待测目标。本发明利用四端口矢量网络分析仪和双极化天线组件，可实现雷达目标的极化RCS成像测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 散射 目标 rcs 成像 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学，未经西安电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110061433.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种环形结构的光纤电流传感器
- 下一篇：用于集成电路封装的分层缺陷检测方法
