[发明专利]三维存储器及其制造方法在审
申请号: | 202110062459.4 | 申请日: | 2021-01-18 |
公开(公告)号: | CN112786612A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 蒋志超;罗兴安;张高升;张春雷;胡淼龙;郑晓芬 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/1157 | 分类号: | H01L27/1157;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 张李静;张颖玲 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种三维存储器及其制造方法;其中,方法包括:提供层叠在衬底上的第一子堆叠结构;所述第一子堆叠结构包括若干间隔排列的第一介质层和第二介质层;第一子沟道孔穿过所述第一子堆叠结构;在所述第一子沟道孔中形成第一牺牲层;其中,在形成所述第一牺牲层后,所述第一子沟道孔的侧壁中所述第一子堆叠结构顶部的第一介质层的部分裸露,且所述第一子堆叠结构中除顶部的第一介质层之外的其余的第一介质层的部分不裸露;对所述顶部的第一介质层进行第一刻蚀,去掉部分所述顶部的第一介质层,以增大裸露的侧壁部分对应的径宽;其中,在进行所述第一刻蚀时,刻蚀物质对所述第一介质层的刻蚀速度大于对所述第一牺牲层的刻蚀速度。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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