[发明专利]基于条纹密度区域分割和校正的物体三维形貌测量方法有效
| 申请号： | 202110068374.7 | 申请日： | 2021-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN112665529B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 严利平;王秋霞;陈本永;黄柳 | 申请（专利权）人： | 浙江理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/25;G06F17/13;G06T5/00;G06T5/30;G06T7/11;G06T7/136 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310018 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于条纹密度区域分割和校正的物体三维形貌测量方法。采集待测物的全息干涉图，处理获得二维包裹相位图；滤波后得滤波后包裹相位图，利用滤波后包裹相位图计算二维包裹相位图的一二阶相位梯度，再阈值分割和膨胀操作生成密集区域的掩模，取反得稀疏区域的掩模；计算二维包裹相位图的一阶包裹相位梯度图，将两个掩模用于一阶包裹相位梯度图处理，得到密集和稀疏区域的一阶包裹相位梯度；计算两个区域的校正阈值及校正值，区域校正再合并；建立离散偏微分方程求解计算直至获得真实相位图，表征待测物的轮廓形貌。本发明不仅依据条纹密度对一阶相位梯度进行了自适应区域划分和校正，且具有计算速度快、精度高、有效抑制误差传播的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 条纹 密度 区域 分割 校正 物体 三维 形貌 测量方法 | ||
【主权项】：
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