[发明专利]一种轴承外圈表面缺陷区域检测方法在审
| 申请号： | 202110069472.2 | 申请日： | 2021-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN112862760A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 冯毅雄;赵泽田;洪兆溪;赵彬 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/187;G06K9/62 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种轴承外圈表面缺陷区域检测方法。对原始的轴承外圈图像进行多尺度分解，求解各个尺度的模极大值，实现轴承外圈缺陷区域边缘预选；对轴承外圈表面缺陷区域边缘进行聚类获得各个聚类簇，计算每个聚类簇的中心确定缺陷区域的生长种子点；以生长种子点为基点，以基点的四邻域像素为待选生长点集，遍历待选生长点集中的每一个像素，判断是否满足生长终止条件，以实现轴承外圈表面缺陷区域检测。本发明的轴承外圈表面缺陷区域检测方法在处理轴承外圈多表面多类型缺陷检测问题时表现出更高的准确性，同时鲁棒性更强，能够适应不同亮度和光照条件下表面缺陷区域检测，获得了较其他轴承表面缺陷检测算法更优的检测效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 轴承 外圈 表面 缺陷 区域 检测 方法 | ||
【主权项】：
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