[发明专利]一种超宽范围的荧光定量分析方法和荧光测量系统有效
| 申请号： | 202110079799.8 | 申请日： | 2021-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN112903644B | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 黄梅珍;富雨超;李婉香;王志辉 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 徐红银 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超宽范围的荧光定量分析方法和荧光测量系统，包括：建立分析模型以及利用所述分析模型进行具体测量中的荧光定量分析；其中，所述建立分析模型，包括：S1,建立接收荧光强度与荧光物质的浓度关系：S2,基于上述的接收荧光强度与荧光物质的浓度关系，对具体被测的荧光物质建立分析模型，从而确定表达式中的常数。本发明基于激发光与荧光物质之间的相互作用和传播规律，建立一定体积荧光物质溶液的荧光发射模型，推导得到了从低浓度到高浓度大范围内接收荧光强度与荧光物质浓度的准确关系，可以解决高浓度荧光物质定量和宽量程荧光物质定量的难题，不仅适用于低浓度荧光物质定量，也适用于高浓度荧光物质定量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 范围 荧光 定量分析 方法 测量 系统 | ||
【主权项】：
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