[发明专利]参数确定方法、存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202110080010.0 申请日: 2021-01-21
公开(公告)号: CN114827580A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 马森;洪涛;朱劲野;周春苗;于静;韩天洋;刘静 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N13/302
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 解婷婷;曲鹏
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开实施例提供一种参数确定方法、存储介质及电子设备,该方法包括:获取具有预设空间频率的标准测试图像以及所述标准测试图像的对比度;基于所述标准测试图像,获取所述标准测试图像对应的观看效果图像的对比度,所述标准测试图像对应的观看效果图像为在三维3D显示装置显示所述标准测试图像时,观看者在预设观看距离下通过所述3D显示装置所能观看到的图像;计算所述标准测试图像对应的观看效果图像的对比度与所述标准测试图像的对比度的比值,确定出在所述预设观看距离下的解析度参数,所述在所述预设观看距离下的解析度参数用于表征所述3D显示装置在预设观看距离下对具有所述预设空间频率的图像进行显示时的立体显示质量。
搜索关键词: 参数 确定 方法 存储 介质 电子设备
【主权项】:
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