[发明专利]一种基于分布式阵列的联合测角方法和装置有效
| 申请号： | 202110081253.6 | 申请日： | 2021-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN112858995B | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 黄天耀;刘一民;张广滨;王磊 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01S3/14 | 分类号： | G01S3/14 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 廖元秋 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种基于分布式阵列的联合测角方法和装置，属于天线阵列测角技术领域。该方法首先将多个均匀线性子阵列水平摆放在同一直线上构成分布式阵列；然后在任一采样时刻利用该分布式阵列对多个目标辐射的电磁波信号进行采样得到单快拍采样信号，根据盲源分离算法估计各子阵列间的相位差，最后通过匹配滤波得到该采样时刻各目标方位角的估计结果。本发明可以实现在各个子阵列空间位置关系未知的情况下，使得该分布式阵列的角度分辨能力接近各子阵列彼此相参时的角度分辨能力，即等效于单个大孔径阵列，并实现精准测角。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 分布式 阵列 联合 方法 装置 | ||
【主权项】：
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