[发明专利]一种利用激光式位移控制装置全局测量试样膜嵌入的方法有效

专利信息
申请号: 202110084901.3 申请日: 2021-01-22
公开(公告)号: CN112985972B 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 邹德高;季晓檬;孔宪京;张佳晨;张良;陈涛;马斌;梁存绍;周晨光 申请(专利权)人: 大连理工大学;四川华能泸定水电有限公司
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02;G01N3/06;G01N3/24
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 李晓亮
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种利用激光式位移控制装置全局测量试样膜嵌入的方法,属于土工试验技术领域。首先,由12个激光位移传感器、1个色标传感器和外接固定圆环等完成圆盘式激光位移测量装置的组装,再安装轴向位移控制装置,完成激光式位移控制装置的安装。其次,将组激光式位移控制装置与外罩进行组装。最后,利用上述激光式位移控制装置测量三轴试样膜嵌入量的过程,获取三轴试样在各状态下各测段轴向变形和径向变形的实际值,测量结果经相关处理计算三轴试样膜嵌入量。本发明可以实现对于三轴试样全表面膜嵌入的精准测量,使用范围广泛。该测量方法是非接触式测量,试验过程中不会对三轴试样的变形不会产生干扰。且测量的精准度高,具有良好的推广价值。
搜索关键词: 一种 利用 激光 位移 控制 装置 全局 测量 试样 嵌入 方法
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