[发明专利]光检测单元在审
申请号: | 202110085812.0 | 申请日: | 2021-01-22 |
公开(公告)号: | CN113267853A | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 永田晃规 | 申请(专利权)人: | 株式会社基恩士 |
主分类号: | G02B6/42 | 分类号: | G02B6/42 |
代理公司: | 北京格罗巴尔知识产权代理事务所(普通合伙) 11406 | 代理人: | 孙德崇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 提供一种光检测单元。允许光检测单元的光波导穿过薄空间或安装在薄空间中。光检测单元包括:光波导,其被形成为在水平方向上宽的片状并分别具有芯和包层,芯和包层在竖直方向上分层地设置;以及片状的覆盖构件,其覆盖光波导的包层并与光波导形成为一体。 | ||
搜索关键词: | 检测 单元 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社基恩士,未经株式会社基恩士许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110085812.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:磁传感器、磁检测装置及磁检测系统
- 下一篇:输入感测单元