[发明专利]一种MCU中 FLASH CACHE性能的测试方法在审
| 申请号： | 202110087586.X | 申请日： | 2021-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN112732545A | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 徐琴;钱斌;徐金波 | 申请（专利权）人： | 中电海康无锡科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06F11/30 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅;陈丽丽 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市新吴区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种MCU中FLASH CACHE性能的测试方法，其中，包括：接收上位机的测试参数配置以及测试项配置；根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进行FLASH CACHE性能测试；读取目标MCU中能够成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数；根据成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数进行统计分析，得到分析结果；将所述分析结果反馈至所述上位机进行显示。本发明提供的MCU中FLASH CACHE性能的测试方法鞥能够实现对MCU中FLASH CACHE性能的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mcu flash cache 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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