[发明专利]集成电路测试分选机送料分粒装置及控制方法在审

专利信息
申请号: 202110093358.3 申请日: 2021-01-25
公开(公告)号: CN112642737A 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 吴成君;林强 申请(专利权)人: 福州派利德电子科技有限公司
主分类号: B07C5/02 分类号: B07C5/02;B07C5/36
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 吴志龙;蔡学俊
地址: 350012 福建省福州*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 集成电路测试分选机送料分粒装置,包括送料装置与分粒装置,所述分粒装置包括固定座,所述固定座的左侧设置有抬升机构,所述固定座的右侧设置有止动机构,所述止动机构与抬升机构均通过驱动机构驱动,所述送料装置包括安装座,所述安装座的顶部自下而上依次设置有导轨底座与导轨顶盖,所述导轨顶盖上沿长度方向设置有多个气驱机构,所述导轨顶盖的上方设置有激震机构。本发明结构紧凑,易于使用,稳定性好,利用气体驱动集成电路在送料槽道内快速移动,能实现集成电路的连续输送,并且不会造成集成电路的损伤,同时采用分粒机构将各集成电路分开,避免黏连导致输送失误。
搜索关键词: 集成电路 测试 分选 机送料分粒 装置 控制 方法
【主权项】:
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