[发明专利]集成电路测试分选机送料分粒装置及控制方法在审
申请号: | 202110093358.3 | 申请日: | 2021-01-25 |
公开(公告)号: | CN112642737A | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 吴成君;林强 | 申请(专利权)人: | 福州派利德电子科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02;B07C5/36 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 吴志龙;蔡学俊 |
地址: | 350012 福建省福州*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 集成电路测试分选机送料分粒装置,包括送料装置与分粒装置,所述分粒装置包括固定座,所述固定座的左侧设置有抬升机构,所述固定座的右侧设置有止动机构,所述止动机构与抬升机构均通过驱动机构驱动,所述送料装置包括安装座,所述安装座的顶部自下而上依次设置有导轨底座与导轨顶盖,所述导轨顶盖上沿长度方向设置有多个气驱机构,所述导轨顶盖的上方设置有激震机构。本发明结构紧凑,易于使用,稳定性好,利用气体驱动集成电路在送料槽道内快速移动,能实现集成电路的连续输送,并且不会造成集成电路的损伤,同时采用分粒机构将各集成电路分开,避免黏连导致输送失误。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 测试 分选 机送料分粒 装置 控制 方法 | ||
【主权项】:
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