[发明专利]一种基于Processing的电磁特性可视化方法有效
| 申请号： | 202110093854.9 | 申请日： | 2021-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN112818530B | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 刘春波;孙金生 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 封睿 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种基于Processing的电磁特性可视化方法，用横轴表示横截面的长度，纵轴表示电磁特性的方向与大小，构建超导体横截面模型；基于Bean模型，计算超导体横截面上的磁通线密度、临界电流密度与交流损耗的空间分布；基于Processing可视化显示横截面的磁通密度分布，横截面的临界电流密度分布，交流损耗密度分布，以及交流损耗密度色彩分布。本发明计算公式简单，仿真出的图像电磁特性的变化一目了然。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 processing 电磁 特性 可视化 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学，未经南京理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110093854.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
