[发明专利]一种PCB双面测试探针台在审
申请号: | 202110096465.1 | 申请日: | 2021-01-25 |
公开(公告)号: | CN112816853A | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 吴会旭;刘伟;张海洋;吕文波 | 申请(专利权)人: | 苏州伊欧陆系统集成有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/073;G01N21/956 |
代理公司: | 常州品益专利代理事务所(普通合伙) 32401 | 代理人: | 侯慧娜 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工业园*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及电路测试技术领域,具体涉及一种PCB双面测试探针台。包括隔振基台,隔振基台中央设置有PCB夹具,PCB夹具下方吸附有下探针机构和下显微镜机构,PCB夹具上方分别设置有可沿X轴和Y轴方向移动的上显微镜机构和上探针机构。本发明基台采用具备隔振功能的光学基台,有效避免振动造成的测试偏差。通过上显微镜机构和下显微镜机构,可对PCB的正面和背面进行双面观测,通过上探针机构和下探针机构,可对PCB的正面和背面进行双面探针测试,解决了PCB板尺寸增加以及多层化带来的测试难题。而且上显微镜机构和上探针机构可沿X轴和Y轴方向的运动,可快速的实现PCB板的定位和测试。下探针机构和下显微镜机构均设置有磁吸底座,使用更方便,而且不易偏移。 | ||
搜索关键词: | 一种 pcb 双面 测试 探针 | ||
【主权项】:
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