[发明专利]一种能够使大豆均匀铺开的光谱检测用上料装置在审

专利信息
申请号: 202110099191.1 申请日: 2021-01-25
公开(公告)号: CN112875341A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 何成风 申请(专利权)人: 何成风
主分类号: B65G69/04 分类号: B65G69/04;B65G15/58;B65G47/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 756000 宁夏回族*** 国省代码: 宁夏;64
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摘要: 发明涉及光谱成分检测技术领域,且公开了一种能够使大豆均匀铺开的光谱检测用上料装置,包括箱体,所述箱体的顶部固定连接有进料斗,所述进料斗的内后壁转动连接有转动轮,所述转动轮的正面转动连接有连杆,所述进料斗的底部固定连接有上料箱,所述上料箱的顶部开设有开口,所述开口的内左壁插接有第一弧形挡板,所述开口的左右内壁之间插接有第二弧形挡板,所述上料箱顶壁的内部转动连接有齿轮。第二弧形挡板通过齿轮带动第一弧形挡板左右移动时,第一弧形挡板通过连杆带动转动轮做一次往复转动,进而使转动轮带动搅动杆搅动进料斗内的大豆,从而达到了避免开口打开时大豆在进料斗内卡住的效果,使每次开口打开时都有足量的大豆落在上料箱内。
搜索关键词: 一种 能够 大豆 均匀 铺开 光谱 检测 用上 装置
【主权项】:
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