[发明专利]基于微环耦合马赫曾德尔结构的电压测量系统及测量方法有效
| 申请号： | 202110099932.6 | 申请日： | 2021-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN112924741B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 杨庆;罗曼丹;黄凌宇;董富宁;廖伟;陈柠 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R15/24 |
| 代理公司： | 北京君泊知识产权代理有限公司 11496 | 代理人： | 周倩 |
| 地址： | 400044 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于微环耦合马赫曾德尔结构的电压测量系统，包括：自下而上依次键合的硅衬底层、二氧化硅层和顶硅层，顶硅层包括输入波导、Y型分束器、耦合的第一环形波导和第一直波导、耦合的第二环形波导和第二直波导、Y型耦合器和输出波导；以及覆盖在第一环形波导上的电光聚合物薄膜，电光聚合物薄膜的有效折射率在被测电压作用下发生改变时，第一环形波导的有效折射率相应发生改变，使第一直波导和第二直波导的输出光之间产生相位差，实现对被测电压的测量。本发明还公开了一种基于微环耦合马赫曾德尔结构的电压测量系统的测量方法。本发明利用电光聚合物的电光性能和微环马赫曾德尔结构的谐振特性，基于电光效应实现电压实时感知测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 耦合 马赫 曾德尔 结构 电压 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆大学，未经重庆大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110099932.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：资源分发方法、装置、电子设备及存储介质
- 下一篇：一种手指静脉识别系统
