[发明专利]一种提高850nm半导体激光功率密度的方法在审

专利信息
申请号: 202110103144.X 申请日: 2021-01-26
公开(公告)号: CN112636183A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 李再金;袁毅;杨云帆;杨隆杰;赵志斌;陈浩;李林;乔忠良;曾丽娜;曲轶 申请(专利权)人: 海南师范大学
主分类号: H01S5/40 分类号: H01S5/40;H01S5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 571158 海南省*** 国省代码: 海南;46
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摘要: 发明公开了一种提高850nm半导体激光功率密度的方法,包括850nm半导体激光单管模块(1)、准直镜(2)、光纤(3)、环形固定器(4)、空心梯型圆台(5)和聚焦镜(6)。空心梯型圆台(5)包括圆台上底面(5‑1)、圆台外侧面(5‑2)、圆台下底面(5‑3)和圆台内侧面(5‑4)。850nm半导体激光单管模块(1)通过准直镜(2)耦合进光纤(3),光纤(3)通过环形固定器(4)后,垂直入射到空心梯型圆台(5)的圆台下底面(5‑3),在圆台外侧面(5‑2)和圆台内侧面(5‑4)发生全反射,经过圆台上底面(5‑1)入射到聚焦镜(6),实现提高850nm半导体激光输出光功率密度。
搜索关键词: 一种 提高 850 nm 半导体 激光 功率密度 方法
【主权项】:
暂无信息
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