[发明专利]一种多反射干涉自动测量系统在审
| 申请号： | 202110103270.5 | 申请日： | 2021-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN112945385A | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 朱国瑞;倪晨;许涛;顾牡 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/02;G01N21/25;G01N21/27;G01N21/45;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人： | 郁旦蓉 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种多反射干涉自动测量系统，属于光谱技术领域，具有这样的特征，包括：光源部，发射入射光；多反射干涉仪，接收入射光并输出出射光；光传感器，接收出射光并将光信号转化电信号；模数转化部，将电信号转化为数字信号；以及控制部，控制光源部、多反射干涉仪、光传感器以及模数转化部的运行，并将数字信号转化为干涉图进行输出，其中，多反射干涉仪包括：第一反射单元以及第二反射单元，第二反射单元包括第二长反射镜、第二短反射镜、第二终端反射镜以及移动组件，第二长反射镜设置在移动组件上。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 干涉 自动 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同济大学，未经同济大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110103270.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
